针对ITO废旧靶材的系统化回收处理，本质上是一场围绕稀有元素铟的资源循环科技实践。这一过程并非简单的废物收集，而是涉及多个技术环节的工业体系，其核心目标在于、环保地实现铟元素的提取与再生。
铟是一种稀散金属，被誉为“电子工业的维生素”。它在地壳中的含量极低，却是显示、半导体、光伏等高科技产业的必需原料。随着全球电子产品的爆发式增长，对铟的需求持续攀升，而自然储量有限，使得回收含铟废料成为了行业关注的焦点。
一、实验室检测法（推荐用于结算定值）
当需要为交易或工艺控制提供数据时，应采用以下高精度分析方法：
EDTA滴定法
适用于废ITO靶材中高含量铟的测定。通过盐酸溶样、氢溴酸除锡、阳离子交换树脂分离杂质后，在pH 2.3–2.5条件下用EDTA标准溶液滴定铟离子。该方法重复性好，相对标准偏差仅0.15%，回收率达99.8%~100.2%，适合企业质检与第三方检测机构使用。
ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱法）
将样品完全消解后，利用ICP-OES测定溶液中铟的特征谱线强度，实现多元素同步定量。该方法灵敏度高、线性范围宽，可同时检测锡、铁、锌等共存元素，是目前行业公认的主流检测手段。
原子吸收光谱法（AAS）
对于中小型企业或实验室条件有限的情况，AAS也是一种成熟可靠的选项，尤其适用于中高浓度铟的测定，操作简便且成本较低。
上述方法均需专业设备和人员操作，建议送至具备CMA认证的检测机构进行，以确保结果具备法律效力和市场公信力。
二、现场快速筛查技术（适用于初步分类与估价）
在回收一线作业中，为提率、实现分级管理，可采用以下便携式工具进行初筛：
XRF便携式荧光光谱仪
可在现场对块状、粉末状ITO废料进行非破坏性检测，检出限≤50 ppm，能在数十秒内给出铟的大致含量，是目前最常用的现场初筛工具。但需注意，XRF对薄膜类样品（如镀膜玻璃）测量误差较大，建议结合取样分析。
分级分类辅助判断
根据废料来源和物理形态，可初步预估铟含量：
废旧ITO靶材残块：铟含量通常在70%以上，优质残靶可达85%~90%
靶材边角料与次品：含量接近原材，约85%–90%
溅射粉尘或靶灰：因氧化和污染，含量可能降至50%以下，需谨慎评估
